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JDSU RM3750B 回损测试仪

11992
55
光回损测试仪

产品特性
**单模**
波长范围:1310148015501625OR 1650 ±10nm
传感器类型:2nm InGaAs
动态范围:to -75 dB 0 to-80 dBm
绝对精度:±1.0 dB3.4
±25dBm(typical)at-10dBBm6.7
相对精度:±0.4 dB4 ±0.05dB(<5 dB Loss)±0.15dB<5 dB Loss)6
输出端口:RS 232
输入电压:100-240V AC,50-60 Hz
耗电量:30vA maximumFC,SC
显示屏:16-chracter LCD
尺寸:4 kg
工作温度:0-40℃
储存温度:-40-70℃
湿度范围:maximum 95% RH from 10-40℃

**多模**
波长范围:850 and/or 1310±20nm
传感器类型:3nm InGaAs
动态范围:to -75 dB 0 to-60 dBm
绝对精度±1.0dB5
±0.25dBm(typical)at-10 dBm(7)
相对精度:±0.7 dB 5 ±0.15 dB7.8
输出端口:RS 232
输入电压:100-240V AC,50-60 Hz
耗电量:30vA maximumFC,SC
显示屏:16-chracter LCD
尺寸:4 kg
工作温度:0-40℃
储存温度:-40-70℃
湿度范围:maximum 95% RH from 0-40℃

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